Axial stress profiling for few-mode fiber Bragg grating based on resonant wavelength shifts during etching process

We proposed an analytical model to describe the relationship between the axial stress profile of a few-mode fiber Bragg grating with the variations in the resonant wavelengths during a chemical etching process. As a mechanism of preserving state of equilibrium, the etched fiber is experiencing a var...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Zaini, M.K.A., Lee, Y.S., Lim, Kok Sing, Nazal, N.A.M., Zohari, M.H., Ahmad, Harith
التنسيق: مقال
منشور في: Optical Society of America 2017
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://eprints.um.edu.my/18851/
http://dx.doi.org/10.1364/JOSAB.34.001894
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!