An SEM flashover: technique to characterize wide band gap insulators

This paper introduces the use of a scanning electron microscope (SEM) to evaluate the insulation property of wide band gap insulators. An SEM may be used not only to observe a surface image but also to provide a fine electron beam for charging an uncoated insulator surface at once. The charging can...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Sutjipto, Agus Geter Edy, Muhida, Riza, Takata, Masasuke
التنسيق: Conference or Workshop Item
اللغة:English
منشور في: 2006
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://irep.iium.edu.my/9423/1/An_SEM_Flashover_-_IEEE_2006.pdf
http://irep.iium.edu.my/9423/
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!