An SEM flashover: technique to characterize wide band gap insulators
This paper introduces the use of a scanning electron microscope (SEM) to evaluate the insulation property of wide band gap insulators. An SEM may be used not only to observe a surface image but also to provide a fine electron beam for charging an uncoated insulator surface at once. The charging can...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , |
---|---|
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
اللغة: | English |
منشور في: |
2006
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://irep.iium.edu.my/9423/1/An_SEM_Flashover_-_IEEE_2006.pdf http://irep.iium.edu.my/9423/ |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|