Improved performance of InGaN/GaN LED by optimizing the properties of the bulk and interface of ITO on p-GaN
Indium Tin Oxide films were deposited directly on p-type Gallium Nitride film using the electron beam deposition method at different substrate temperatures from 25 °C to 550 °C. The structural, optical and Hall measurements represent a direct correlation of ITO properties with the substrate temperat...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , , , |
---|---|
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
Elsevier
2021
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.um.edu.my/25889/ https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.148406 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|